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关于2012年度“全国半导体材料技术标准优秀奖”评选结果公示的函
作者:佚名  文章来源:中国有色金属标准质量信息网  点击数407  更新时间:2012/11/13 8:29:39  文章录入:user2  责任编辑:hguang8379

 

各会员单位及各位委员:

  根据《关于申报“全国半导体材料技术标准优秀奖”的通知》(半材标委[2012]12号)文的要求,各会员单位申报标准优秀奖项目共3项。2012年10月24日,在北京召开专家评审会,共评选出一等奖1项,二等奖1,三等奖1项(具体项目名称见附件1)。

  特此网上公示,并征求全体委员和会员单位的意见,意见反馈截止日为11月16日。  
 
  附件1: 2012年度半导体材料技术标准优秀奖项目评选结果

二O一二年十一月八日

附件1:

2012年度半导体材料技术标准优秀奖项目评选结果

序号
标准项目
起草单位
备注
1.    
硅材料原生缺陷图谱
有研半导体材料股份有限公司、东方电气峨眉半导体材料有限公司、南京国盛电子有限公司、杭州海纳半导体有限公司、万向硅峰电子股份有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司、陕西天宏硅材料有限责任公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所
一等奖
 
2.    
多晶硅企业单位产品能源消耗限额
洛阳中硅高科技有限公司、中国恩菲工程技术有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所、江苏中能硅业科技发展有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司、东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、乐山乐电天威硅业科技有限责任公司、江西赛维LDK光伏硅科技有限公司、陕西天宏硅材料有限责任公司、亚洲硅业(青海)有限公司、特变电工新疆硅业有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、内蒙古神舟硅业有限责任公司
二等奖
 
3.    
碲化镉
清远先导稀有材料有限公司、阳谷祥光铜业有限公司等
三等奖

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