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胶体Zeta电位的测量光学法国际标准采标工作正式开始
作者:佚名  文章来源:全国颗粒表征与分检及筛网标委会  点击数1949  更新时间:2015/5/4 8:25:11  文章录入:user2  责任编辑:hguang8379

关于开展《胶体 Zeta电位的测量 第2部分:光学法》国家标准制订工作的通知

有关单位:

    根据国家标准化管理委员会下达的《国家标准委关于下达2014年第二批国家标准制修订计划的通知》(国标委综合〔2014〕89号 ),由全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会(SAC/TC168)归口的《胶体 Zeta电位的测量 第2部分:光学法》(以下简称“标准”)制订工作全面展开,计划编号20141991-T-469,计划完成时间为2016年,相关文件参见国标委网站(http://www.sac.gov.cn)。

    “标准”等同采用ISO 13099-2:2012(Colloidal systems — Methods for zeta-potential determination — Part 2: Optical methods),是一种用光学法测量电泳迁移率和计算Zeta电位的方法。Zata电位法是表征悬浮液和乳液长期稳定性的一种极其重要的方法,广泛应用于纳米颗粒制造、水处理、石油、分散染料和制药等行业,在传统的酿造、陶瓷、矿物处理、环保、冶金、造纸、食品和涂料等行业也普遍使用。

    Zeta电位法标准的采标过程,不仅是学习国外先进技术的过程,也是促进行业整体水平提升的过程。在标准制定过程中,吸收消化国际技术,分析差异,总结成果,探索将自主科研技术融入国际标准中,切实提高颗粒表征标准国际化水平。

    为保障本标准制订过程的公开、公正、高效和透明,请相关研发、设计、制造、检测以及使用单位等积极参与本标准的制订。

    全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会秘书处
    地  址:北京市海淀区首体南路2号
    邮  编:100044    
    联系人:李霞
    电  话:010-68340836
    E-MAIL:tc168@pcmi.com.cn

二О一五年四月二十九日

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